一种用于子孔径拼接检测的数据采样路径规划方法
- 发布时间:2018.04.09
专利名称 |
一种用于子孔径拼接检测的数据采样路径规划方法 |
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申请号 |
201310390270.3 |
专利类型 |
发明专利 |
申请日 |
2013-09-01 |
授权日 |
2015-11-18 |
公开号 |
103439090B |
分类号 |
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发明人 |
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专利权人 |
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摘要 |
本发明涉及一种用于子孔径拼接检测的数据采样路径规划方法,属于光学检测技术领域,该方法根据被检光学元件或光学系统口径和检测中的子孔径口径,计算检测所需子孔径个数以及每个子孔径坐标位置,合理安排子孔径采样顺序和运动路径。本发明可以用于子孔径拼接检测技术中,安排子孔径采样顺序和路径,并用于指导拼接时数据处理。 |