一种用于子孔径拼接检测的数据采样路径规划方法
  • 发布人:成果转化处
  • 发布时间:2018.04.09

专利名称 

一种用于子孔径拼接检测的数据采样路径规划方法

申请号 

201310390270.3

专利类型 

发明专利

申请日 

2013-09-01

授权日 

2015-11-18

公开号

103439090B

分类号

 G01M11/02(2006.01)I

发明人 

 汪利华吴时彬任戈景洪伟谭毅杨伟

专利权人 

中国科学院光电技术研究所 

摘要 

     本发明涉及一种用于子孔径拼接检测的数据采样路径规划方法,属于光学检测技术领域,该方法根据被检光学元件或光学系统口径和检测中的子孔径口径,计算检测所需子孔径个数以及每个子孔径坐标位置,合理安排子孔径采样顺序和运动路径。本发明可以用于子孔径拼接检测技术中,安排子孔径采样顺序和路径,并用于指导拼接时数据处理。

网站E-mail:cgc@ioe.ac.cn 电话:028-85100055 版权所有:中国科学院光电技术研究所 科技成果转化与产业合作处 备案序号: