专利名称 

一种基于自适应技术的二维平面采样方法

申请号 

201310231667.8

专利类型 

发明专利

申请日 

2013-06-12

授权日 

2016-01-13

公开号

103310447B

分类号

 G06T7/00(2006.01)I

发明人 

 王楠、蒋薇、严伟、胡松

专利权人 

中国科学院光电技术研究所 

摘要 

    本发明涉及一种基于自适应技术的二维平面采样方法，首先使用均匀的稀疏网格进行一次采样，由评估算法对采样结果进行评价，得到具有不同频率范围的分区域，对各分区域的网格测量点进行替换；然后由新生成的网格对采样物体的表面进行二次采样，再次使用评估算法对测量结果进行评价，根据频率的高低对网格进行修正；如此反复进行修正，直到通过评估算法为止。最后由测量系统根据此测量网格对需采样物体表面进行采样。本发明能保证采样点个数最少，也能保证相同采样点个数情况下，采样效果最佳。