- 发布时间:2018.04.09
专利名称
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一种实现超分辨成像功能的金属介质膜结构 |
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申请号
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200810119562.2 |
专利类型 |
发明专利 |
申请日
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2008-09-03 |
授权日 |
2010-12-08 |
公开号
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101349771B |
分类号 |
G02B3/00(2006.01)I |
发明人
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王长涛、刘尧、赵延辉、罗先刚 |
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专利权人
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中国科学院光电技术研究所 |
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摘要 |
一种实现超分辨成像功能的金属介质膜结构,其特征在于包括下列步骤:(1)选择入射光,其波长为λ;(2)选择金属材料和介质材料,介电常数分别为εm和εd;(3)交替排布金属薄膜和介质薄膜材料,形成多层金属介质薄膜结构,其中金属和介质单层膜层厚度分别为dm和dd,多层金属介质膜的总厚度为d;(4)将物点放置于多层膜材料的一侧,并用入射光来照射,在另一侧即可成像,其物像之间的距离为(5)步骤(3)所得结构即为能够实现超分辨成像功能的金属介质膜结构。本发明的金属介质膜结构,不需要金属和介质的介电常数匹配,只要在结构参数选择上满足特定条件,即可实现倏逝波放大,从而可以大大拓展实现超分辨成像的工作波长。
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